Eta450 Ultra 阵列多通道光学麦克风 点击查看数据手册 虹科Eta 450 Ultra 传感器阵列,在单个磁头中包含 8 个光学麦克风。该阵列适用于高速、非接触式超声无损检测。该阵列最好与虹科的线轮廓激发激光单元结合使用,以产生超声波信号。 无膜光学麦克风线性阵列紧凑型传感器头8个通道,间距为2 mm可根据要求提供自定义通道号和音高 无损检测应用 航空航天 虹科光学麦克风能够使用独特的带宽和出色的灵敏度检测空气耦合超声,这些优势为非接触式超声检测开辟了道路。无损超声检测不再需要耦合液,虹科的测试方法是完全自动化的,可实现 100% 在线质量检测。紧凑型LEA探头是完全光纤耦合的,其对错位和表面变化的鲁棒性确保了整个检测区域的高信噪比,最大限度地减少了昂贵的手动重新测试。 LEA系统扫描得到碳纤维复合材料的内部缺陷图像 复合材料检测应用手册 汽车行业 虹科基于LEA技术的点焊检测方法与其他测试方法完全不同,因为它无需与车身物理接触即可工作。这允许机器人控制对汽车行业的点焊缝进行检测,并可靠地区分OK焊缝和NOK焊缝。这种方法从一开始就是为机器人检测而设计的,与手动方法相反。这带来了一个根本优势:它以其他方式无法实现的几毫米错位公差工作。与最先进的人工检测相比,这种全自动高速解决方案可将检测成本降低十倍。 汽车点焊检测应用手册 半导体行业 虹科独特的基于激光的技术可以在没有任何耦合剂的情况下对半导体元件进行超声检测。传感器技术可以轻松集成到大批量生产线中,也可以作为独立的桌面工具使用。虹科超声检测工具节省了离线分析的成本,并确保100%的组件检测,例如汽车行业的封装设备。 虹科提供两种检测方法:高速非接触式成像模式和每秒高达 1000 个组件的超快单次评估模式,两种模式都允许无损检测分层和其他内部缺陷。虹科非接触超声技术提高了故障分析的生产率和生产的可靠性。 半导体检测应用手册 更多应用方案可定制,待您探索......